микрометрический толщиномер FRU WH82 0-1250 микрометр

35 287.83₽ 31 759.07₽

Размер

Добавить в корзину

Артикул: l40709

Категория: Инструменты для измерения и анализа

Толщиномер покрытия WH82 (тип Fe и NFe)

______________________________________________________________________

1. Применение

Тип Fe & NFe (WH82): Измерьте толщину немагнитного покрытия (такого как эмаль, резина, краска и т.д.) На магнитной основе (такой как сталь, железо, никель, кобальт, легированная и намагниченная сталь и т.д.).

, с толщиной непроводящего покрытия на немагнитной основе (такой как алюминий, хром, медь, свинец, цинк и т.д.)

2. Введение

Данное устройство представляет собой портативный измеритель.Он способен быстро, точно и без травм измерять толщину покрытия как в лабораторных, так и в инженерных условиях.

Этот прибор соответствует следующим критериям:

GB / T 4956 ~ 1985 измерение толщины немагнитного покрытия на магнитной металлической подложке, магнитный метод

GB / T 4957 ~ 1985 измерение толщины непроводящего покрытия на немагнитной металлической подложке, вихретоковый метод

JB/ T 8393 ~ 1996 Измерение толщины магнитного и вихретокового покрытия

Принцип магнитного метода (зонд F-типа)

Когда зонд соприкасается с покровным слоем, зонд и магнитная подложка образуют замкнутую магнитную цепь; Из-за наличия немагнитного покрытия изменяется магнитное сопротивление.Толщину покровного слоя можно определить путем измерения изменения.

Вихретоковый метод (зонд NF-типа)

Когда зонд соприкасается с покровным слоем, зонд и немагнитная подложка образуют вихревой ток и передают обратную связь на катушку внутри зонда.

Толщину покровного слоя можно определить путем измерения обратной связи.

3. Характеристики

—— Измерение толщины с использованием как магнитного метода для измерения немагнитного покрытия на магнитной металлической подложке, так и вихретокового метода для измерения непроводящего покрытия на немагнитной металлической подложке.

—— Одноточечный или двухточечный метод может быть использован для коррекции отклонения системы зондирования, чтобы обеспечить точность устройства в процессе измерения.

—— Автоматическая быстрая идентификация подложки из железа и цветных металлов.

—— Индикатор напряжения питания.

—-Звуковой сигнал динамика во время работы.

——Автоматическое отключение питания в режиме ожидания; доступно ручное отключение питания.

—— Функция индикации отрицательного значения для обеспечения точности калибровки нулевой точки.

4. Сравнение спецификаций

FRU серии WH

5. Сертификаты: CE/ROHS/CNAS

О нас

Shenzhen Wave Optoelectronics Technology Co., Ltd является национальным высокотехнологичным предприятием.Мы являемся производителем НИОКР, который в основном предлагает спектрофотометры, колориметры, измерители блеска, толщиномеры и т.д. В Шэньчжэне, Китай, в течение 10 лет.Все серии проходят международные сертификации CE / ROHS / CNA.

Если у вас возникнут какие-либо вопросы по этим продуктам, мы готовы оказать поддержку, спасибо!

Погрешность точности - калибровка по нулю ± (1 + 3% Ч)

Влажность - ≤85%

Номер модели - WH82

Магнитный метод - Зонд F-типа

Место происхождения - Китай

Диапазон измерения - 0-1250 мкм

Температура - 0-40 ℃

Минимальный объем подложки - 10 * 10 мм

единица - Мкм/мил

Происхождение - Материковый Китай

Фирменное наименование - FRU